确定半导体异质结构中主要电荷载流子浓度分布曲线的技术

确定半导体异质结构中主要电荷载流子浓度分布曲线的技术

应用领域:电子信息

我有意向
国家/地区

俄罗斯

行业领域

电子信息

简介

按深度确定半导体异质结构中主要电荷载流子浓度分布轮廓的方法,其中使用半导体异质结构样品来测量电容,其不同之处在于:另外对结构的每个功能层进行蚀刻,测量电容在非稳态模式下的电压依赖性和耗散因数的电压依赖性,确定给定深度的 "轮廓窗口",然后在非稳态模式下重新计算非稳态的电容,并确定耗散因数的电压依赖性。

匹配结果

400 000 2950

需求提交

请输入姓名
请输入有效的电话号码
请输入事项描述
上传图片、文件。例如,“100个小能玩偶,参考上传的设计图。

意向填写

请输入姓名
请输入有效的电话号码
请输入事项描述
上传图片、文件。例如,“100个小能玩偶,参考上传的设计图。