薄膜和粉末样品的可调温度和测量角度保持器

薄膜和粉末样品的可调温度和测量角度保持器

应用领域:先进制造与自动化

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先进制造与自动化

简介

西班牙国家研究委员会(CSIC)和加泰罗尼亚纳米科学与纳米技术研究所(ICN2-BIST)的研究人员最近开发了一种样品架,用于在荧光计或紫外-可见-近红外光谱仪中测量透射或反射模式下的薄膜或粉末样品。支架允许控制温度条件,并具有可调节的测量角度,用于调节光入射和/或光检测角度。该设备可定制,以适应不同商业品牌提供的仪器。正在寻求通过专利许可协议合作提供拉曼和发射分光光度计和设备(例如荧光、磷光、电致发光等)的公司。


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